使用NI PXI可编程电源优化自动化测试系统

使用 PXI 平台上功率密度最高的模块，节省机架空间并简化系统设计新闻发布 － 2013 年 6 月－ 美国国家仪器公司（National Instruments, 简称 NI）近日发布最新的通用可编程电源，提供了PXI 中最高的功率密度，为自动化测试系统奠定了基础。 NI PXIe-4112 与 PXIe-4113 模块提供了高功率密度，能够节省机架空间，同时省去多

NI基于PXI的测试系统降低了半导体自动化测试成本

这一基于平台的开放式方法结合了模块化仪器和系统设计软件,为射频和混合信号生产测试提供更好的解决方案AUSTIN, Texas 2014年8月5日NIWeek－NI (美国国家仪器公司，National Instruments，简称NI) 作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对全球最严峻的工程挑战的供应商，今日宣布推出NI半导体测试系统(STS)系列。这些

基于实时仿真的下一代机械测试系统

使用基于仿真技术的实时测试节约时间和成本几十年来，将实时仿真和物理I/O集成在一起的测试系统一直都被用于测试那些带有嵌入式软件的机械控制系统。在这些应用中，设计者使用数学模型来仿真物理系统部件的动态特性，从而无需使用完整的系统就可以测试电子控制单元。设计者们越来越多地使用这种硬件在环（Hardware-in-the-l

智能设备需要更智能的测试系统

概览不只是测试管理人员和工程师，还有为其提供服务的厂商，他们都面临着在确保器件质量的前提下不断降低成本的挑战，而智能设备则为自动化测试创造了一个转折点。 为了测试这些智能设备，这些相关相关测试机构正在淘汰现有的机架堆叠式台式仪器和基于封闭架构的自动化测试设备(ATE)系统，转而使用更智能的测试系统，以满足